(2018). Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis (Fourth edition.). New York, NY: Springer. ISBN: 149396674X
Bok / Antologi
Gilmore, I. C., & Vickerman, J. C. (Red.). (2009). Surface analysis : the principal techniques /c editors: John Vickerman, Ian S. Gilmore (2 uppl.). Hoboken, N.J: Wiley. ISBN: 9780470017630
Bok / Antologi
På du.se använder vi kakor (cookies) för att ge dig en bra upplevelse på vår webbplats. Med hjälp av webbanalys kan vi anpassa webbplatsen ytterligare. Genom att surfa vidare godkänner du att vi använder kakor.